电子束为电子显微镜观察样本的光源
信息分类：生命科学小百科 作者:YIYI发布
电子束为电子显微镜观察样本的光源
扫瞄式电子显微镜(Scanning Electron Microscope , SEM)
利用阴阳两极之间电压差来加速电子，并用电磁线圈聚焦和控
制电子束进行方向，即电子束为电子显微镜观察样本的光源。当电
子束撞击样本时产生反射电子(back-scattered electrons)及次生
电子 (secondary electrons)，利用两者的明暗对比，以显示样本
万能试验机
本研究采用的万能试验机，其加压范围有 2 吨、10 吨、50 吨及 200 吨等四种自动
压力调整功能，
压汞式孔隙分析仪(Mercury Intrusion Porosimetry , MIP)
利用油压将汞贯入水泥浆体中，藉由贯入压力与贯入量来估测
浆体中的孔径分佈情形
X 光绕射分析仪(X-ray Diffraction , XRD)
利用高速电子枪射击铜靶激发出 X 光，再以此 X 光对待测粉末
进行绕射，依其不同角度所呈现的强度来进行成份分析，
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