纳米级数显测量比较仪 JDS-2

产品介绍: ■产品简介本仪器由传感器、测量支架、专用计算机三部份组成。此处的专用计算机也就是数据采集显示箱。仪器工作时，专用计算机可以通过传感器把位移数据采集到存储器内，并进行处理和显示。此外专用计算机还可以通过…

立式接触式干涉仪 JDS-1

产品介绍: 立式接触式干涉仪JDS-1是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规，亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量，是各级计量室的基本长度计量仪器之一。

机械式比较仪 JSN-1A

产品介绍: 机械比较仪适用于测量工件的几何尺寸和形位偏差，特别是检定工件的跳动量，并可用比较法测量长度。比较仪仪校验台是机械比较仪用的校验台架，与量块配合使用可测定比较仪的示值变动性等性能指标。同时通过比较法用以测量共娟的长度变化，起到精密测量只用。

立式光学计数显高度计　LG-5

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数字式立式光学计 JDG-S1

产品介绍: 数字式立式光学计JDG-S1是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，生产过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。

立式光学计 LG-1

产品介绍: 立式光学计LG-1是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，亦可用来控制精密零件的加工。