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如何利用偏光显微镜系统分析晶质材料的显微结构

如何利用偏光显微镜系统分析晶质材料的显微结构

  单偏光镜下晶体形，解理，突起，颜色，多色性，
其它则有无包裹性与有无次生变化等等。

在正交偏光镜下最高干涉色，折射率，消光类型与消
光角，以及延性符号等。

锥光镜下均质体与非均质体的区别在有没有干涉图，
轴性，干涉图的特征，通过不同切面方向，光性符号
定向切面。

利用偏光显微镜观察晶体质材料，可以得到在单偏光
下的观察，或是正光偏光镜下，一般按照单偏光、锥
光和其他顺序进行描述和记录。