表面闪突起与切面的关系
通常情况下我们在使用偏光显微镜对晶体表面样品标本进
行显微检测研究分析观察的晶体表面闪突起与切面关系，
则需要在同一晶体物质表面内才行。
如果两个不同的晶体所检测观察出的垂直光轴的切面与晶
体表面闪突起是不相同的。
因此在同一晶体表面闪突起与切面进行显微观察时，光线
能够通过同一面上时垂直光轴切面上的闪突起是不显示的
，而对于平行光轴或是说平行光轴切面上的闪突起是明显
的。
因此对于晶体表面的检测，则就需要通过晶体表面闪突起
与切面的关系进行的，而对于斜交光轴切面上的闪突起是
在两个面之间。