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显微镜分析仪分析试样原材料结构特点,试验仪器

信息分类:生命科学资讯  日期: 2013-11-18 23:43:59  作者:YIYI发布 

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显微镜分析仪分析试样原材料结构特点,试验仪器

以X 光绕射分析仪分析各试料组织结构相,
测量面为轧延平面。并且探讨经过退火热处理后,
晶粒方位之转变。
究针对各试料进行拉伸试验(应变速率为1mm /min)及Micro Vickers 微硬度测试,
并以奈米压痕试验机(应变速率5nm/s),对各试料基地以及第二相
进行测试,以了解其基本机械性质。

将板型试片一端固定于试片夹持装置,另一端装配振幅感应器。
试片尺寸为80mm x 15mm x 3mm,试片两侧于近振动台夹持
端 25mm 距离处,开 V 型凹槽(notch),
使振动频率由低频扫描至高频(10~300Hz),对应末端的
位移量最大者即为试片的共振频率
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