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零部件构造轮廓测量显微镜,表面分析样品

信息分类:生命科学资讯    作者:YIYI发布 

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零部件构造轮廓测量显微镜,表面分析样品


  一般说来,场输入只能研究为数不多的特定系统,但对这些系
统它确实能提供重要信息。

  在表面分析这个范畴内还应提到一种方法,这就是当气体吸附
或解吸时测量薄膜电导的变化,在这里,前提条件是吸附的气体
要同表面上的导电电子相互作用,因而改变有效载流子的数目,
造成薄膜电阻或电导的变化,为了使这种作用更为显著,显然膜
必须很薄,厚度绝不能超过几百埃,而且超薄越好,可以看出,
这种方法非常简单,唯一的困难就是得到一个可控制的,了解得
相当清楚的薄膜,厚度最好小于100-200埃,虽然从零部件,造
价等来看,它是最简单的方法之一,但上述困难影响很大,使这
种方法的利用颇受限制,另外它与前面谈到的测量由于吸附单层
造成的磁饱和变化方法一样,有许多相同的基本问题,这种方法
还能同其它方法联用,并在某些系统中作了成功的尝试。

  虽然断裂在地质理论和实际工作中都很重要,因为断裂对矿床
普查,勘探和开发有很大的影响,然而,在大构造学中还末拟定
出足够严密的与断裂有关的概念和术语,在确定苏联大部分领土
内大型建议工作的价值时,要评价在震危险性,这一工作在很大
程度上都与正确了解断裂的现代发展有关。
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