PTC材料的显微结构和特点-晶粒测定图像分析
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
PTC材料的显微结构和特点-晶粒测量
PTC材料的显微结构和性能
PTC材料对显微结构有较高的要求，其晶粒为半导，晶界为高阻，
晶粒尺寸一般为3-7μm。品粒过细时，由于电子耗尽层接近晶粒尺寸
而降低PTC效应。
异常晶粒生长将会使材料耐电压性恶化，二重晶粒的显微结构(细晶及粗晶共存)
通常是由于化学不均匀，粉体密度有差异，形成小区高阻岛，易在强电场下损毁。
测量单个晶界的电性，可了解各个晶界有不同电阻温度关系。
当电场施加1-3s内就完成升温，红外显微镜观察证明，每个晶界为一热点，
晶粒和晶界的温度差别达约60℃,加上相变引起的热膨胀突变，均会形成大的内应力，
因此希望陶瓷应具有高均匀的显微结构:
晶粒尺寸均匀，各个晶界特性相近，并具有高势垒:
这样才能在相变温度处电阻突跳陡，从而满足过荷保护或马达启动等功能方面
的要求。
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