表面粗糙度测量仪器-一般可用光切显微镜来测量
信息分类：生命科学资讯 作者:YIYI发布
表面粗糙度的评定依据
表面粗糙度的评定依据取样品的长度，长度是用来判别
表面粗糙度特征的一段基准线长度。取样品的长度是根
据实际情况及纹理特征，选取有表面粗糙度特征的那一
段长度，量出样品长度时根据表面轮廓的走向进行。
表面粗糙度的评定长度和样品长度，在表面波纹度和形
状形成误差，选的样品长度不同得到的高度值也是不同
的。规定和选择长度是为了限制和减弱表面粗糙度对测
量结果的影响。
表面粗糙度的评定长度就是评定轮廓所必须的一段长度，
它可以有个也可以有几个。由于表面粗糙度表面各部分
不均匀，因此需要用几个样品长度来评定表面粗糙度。
表面粗糙度的基准线是用来评定表面粗糙度参数给定的
线，是表面粗糙度二次评定的基准。它分为两种，一种
是几何轮廓形状并划分轮廓的基准线，另一种是轮廓的
算术平均中线，也是有几何轮廓形状在取样长度内与轮
廓走向一致的基准线。
表面粗糙度的基准线的轮廓的单谷是指两相邻轮廓最高
点之间的轮廓部分。单峰与单谷组成的不平度，称单个
微观不平度。
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